- 名称：
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备
- 功能 ：
全自动压痕检测和绑定阻抗测试设备；
- 尺寸：
3~8"&7~17"&21~85"；
- 效率：
3.5 Sec（3~8"）&8Sec（7~17"）&12~19Sec（21~85"）；
- 设备精度：
AOI±2um；
ART±60mΩ；
- 设备尺寸：
AOI-L2000*W1400*H1700mm；
ART-L1800*W1500*H1800mm（for reference）；
- 技术优势：
高精度高稳定性能；
dimpple过虑功能；
IC/FPC和COF“八字”型bump导电粒子检测；
- 技术优势：
AOI：LCM上料→CCD定位→粒子光学检测→自动出料；
ART：LCM上料→CCD定位→阻抗测试→自动出料。
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备
该设备应用于AOI-COF/IC/FPC本压后导电粒子检测，本压后粒子以及AG阻抗测试。
细节图
技术参数
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