- 名称
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备
- 产品尺寸
3~8"&7~17"&21~85"
- 效率
3.5 Sec（3~8"）&8Sec（7~17"）&12~19Sec（21~85"）
- 设备精度
AOI±2um
ART±60mΩ
- 设备尺寸
AOI: 2000×1400×1700mm（仅供参考）
ART: 1800×1500×1800mm（仅供参考）
- 技术优势
高精度高稳定性能
dimpple过虑功能
IC/FPC和COF“八字”型bump导电粒子检测
- 技术优势
AOI：LCM上料→CCD定位→粒子光学检测→自动出料
ART：LCM上料→CCD定位→阻抗测试→自动出料
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备
全自动压痕粒子检测和阻抗测试设备，应用于AOI-COF/IC/FPC本压后导电粒子检测，本压后粒子以及AG阻抗测试，流程包括上料、CCD定位、检测/测试、出料。
细节图
技术参数
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